发明名称 用于测试继电器之量测装置
摘要 本发明系关于一种用于一测试继电器之量测装置,该量测装置包括:一电源组、一讯号产生器及一讯号波形量测器。该电源组用以提供一电压讯号及一电流讯号,该电压讯号耦接至该线圈之一第一端点,该电流讯号耦接至该共通接点。该讯号产生器用以产生一输入讯号至该线圈之一第二端点。讯号波形量测器用以取得该线圈之该第二端点之一输入讯号波形,及该共通接点之一切换讯号波形,以判断该继电器是否正常。因此,本发明之量测装置可以动态量测继电器是否正常动作,以确定该继电器之好坏。并且,本发明之量测装置可藉由比较该切换讯号波形及该继电器之规格,以确定所量测切换讯号波形之切换延迟时间及切换频率是否符合规格,及切换之正确性。
申请公布号 TWI249174 申请公布日期 2006.02.11
申请号 TW093136337 申请日期 2004.11.25
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 卢欣玫;陈明坤
分类号 H01H49/00 主分类号 H01H49/00
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 1.一种用于一测试继电器之量测装置,该继电器具 有一线圈、一共通接点、一常闭接点及一常开接 点,该量测装置包括: 一电源组,用以提供一电压讯号及一电流讯号,该 电压讯号耦接至该线圈之一第一端点,该电流讯号 耦接至该共通接点; 一讯号产生器,用以产生一输入讯号至该线圈之一 第二端点,以该输入讯号触发该线圈动作,以切换 该常闭接点或该常开接点与该共通接点之连接状 态,该常闭接点连接至一接地端,该常开接点浮接; 及 一讯号波形量测器,用以取得该线圈之该第二端点 之一输入讯号波形,及该共通接点之一切换讯号波 形,以判断该继电器是否正常。 2.如请求项1之量测装置,其中该电源组包括一电压 源及一电流源,该电压源用以提供该电压讯号,该 电流源用以提供该电流讯号。 3.如请求项1之量测装置,另包括一个电容器,连接 于该线圈之该第一端点及该接地端之间。 4.如请求项1之量测装置,另包括一个保护二极体, 并接于该线圈之该第一端点及该第二端点之间。 5.如请求项1之量测装置,其中该讯号产生器为一方 波产生器。 6.如请求项1之量测装置,另包括一限流电阻及一限 流二极体,该限流电阻及该限流二极体串接,且连 接于该共通接点及该接地端之间。 7.如请求项1之量测装置,另包括一第一分压电阻、 一电晶体及一第二分压电阻,该第一分压电阻连接 于该讯号产生器及该电晶体之一基极间,该第二分 压电阻连接于该线圈之该第二端点及该电晶体之 一集极间,该电晶体之一射极连接至该接地端。 图式简单说明: 图1为习知测试负载板之继电器之量测示意图; 图2为本发明用于测试继电器之量测装置及量测示 意图;及 图3为所量测之输入讯号波形及切换讯号波形之示 意图。
地址 高雄市楠梓加工区经三路26号