发明名称 Kupferverdrahtung mit verbessertem Elektromigrationswiderstand und reduzierter Defektempfindlichkeit
摘要
申请公布号 DE69836114(T2) 申请公布日期 2007.04.19
申请号 DE19986036114T 申请日期 1998.05.08
申请人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORP. 发明人 ASHLEY, LEON;DALAL, HORMAZDYAR M.;NGUYEN, DU BINH;RATHORE, HAZARA S.;SMITH, RICHARD G.;SWINTON, ALEXANDER J.;WACHNIK, RICHARD A.
分类号 H01L21/3205;H01L21/768;H01L23/52 主分类号 H01L21/3205
代理机构 代理人
主权项
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