发明名称 |
薄膜晶体管及其制造方法 |
摘要 |
本发明公开一种薄膜晶体管,其包括一基底、一源极、一漏极、一通道区域、一栅极绝缘层、一钝化层及一栅极,该源极、漏极及通道区域形成于该基底上且位于同一层,该通道区域位于该源极及漏极之间,该栅极绝缘层形成于该通道区域上,该钝化层形成于该源极、漏极及通道区域上,且位于该栅极绝缘层两侧,该钝化层介电常数小于栅极绝缘层介电常数,该栅极形成于该栅极绝缘层及部分钝化层上,且与该通道区域对应。该薄膜晶体管漏电流较小、可靠性高。本发明还提供该薄膜晶体管之制造方法。 |
申请公布号 |
CN101055892A |
申请公布日期 |
2007.10.17 |
申请号 |
CN200610060273.0 |
申请日期 |
2006.04.12 |
申请人 |
群康科技(深圳)有限公司;群创光电股份有限公司 |
发明人 |
颜硕廷 |
分类号 |
H01L29/786(2006.01);H01L21/336(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/786(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1.一种薄膜晶体管,其包括一基底、一源极、一漏极、一通道区域、一栅极绝缘层、一钝化层、一栅极及一金属层图案,该源极、漏极及通道区域形成在该基底上且位于同一层,该通道区域位于该源极及漏极之间,该栅极绝缘层形成在该通道区域上,该钝化层形成在该源极、漏极及通道区域上,且位于该栅极绝缘层两侧,该钝化层包括多个接触孔,该金属层图案设置在该钝化层上,且通过该多个接触孔与该源极、漏极及栅极欧姆接触,其特征在于:该钝化层介电常数小于栅极绝缘层介电常数,该栅极形成在该栅极绝缘层及部分钝化层上,且与该通道区域对应。 |
地址 |
518109广东省深圳市宝安区龙华镇富士康科技工业园E区4栋1层 |