| 发明名称 | 测试在一个晶片上的多个存储器芯片的装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种测试在一个晶片上的多个存储器芯片(1)的装置,其中在使用探针(6)的情况下给芯片(1)输入各供电电压(VDD、VSS)、一起始信号(Ⅰ)、一读出信号(CS)、一时钟信号(CLK)以及各地址信号、各数据信号和各控制信号。其中各地址信号、各数据信号和各控制信号是由一个安置在存储器芯片的切口(2)中的逻辑电路(5)产生的,并且直接输送给存储器芯片(1)。 | ||
| 申请公布号 | CN1233841A | 申请公布日期 | 1999.11.03 |
| 申请号 | CN99105342.7 | 申请日期 | 1999.04.30 |
| 申请人 | 西门子公司 | 发明人 | D·黑尔勒;P·海内;M·布克 |
| 分类号 | G11C29/00;G01R31/26;H01L21/66 | 主分类号 | G11C29/00 |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 马铁良;王忠忠 |
| 主权项 | 1．测试在一个晶片上的多个存储器芯片(1)的装置，其中在使用探针(6)的情况下给芯片(1)输入各供电电压(VDD,VSS)、一起始信号(Ⅰ)、一读出信号(CS)、一时钟信号(CLK)以及各地址信号、各数据信号和各控制信号，其特征在于，至少各地址信号、各数据信号和各控制信号的一部分是在一个安置在存储器芯片(1)的切口(切割边缘)(2)中的逻辑电路(5)中产生的，并且直接输送给存储器芯片(1)。 | ||
| 地址 | 联邦德国慕尼黑 | ||