发明名称 光学式旋转体位置检测装置
摘要 本发明提供一种光学式旋转体位置检测装置,其具有:旋转体(20),其按照横穿连结发光组件和光检测组件(31,32)的光轴(13a)的方式每次以规定时间间隔旋转规定角度,且包括在光轴交叉的旋转轨迹上配置的基准位置透光孔(21a),在将旋转体从使基准位置透光孔与光轴一致的基准位置进行一次间隔的旋转后,基准位置透光孔的周缘配置在基准位置的周缘外侧。该装置还具有:透光限制组件(15a),其设置在固定支承体上且与光轴交叉,容许光的透过并限制透过的光的直径。该透光限制组件将透过的光的直径限制为,比从随着旋转体的规定角度的一次旋转而在基准位置透光孔中产生的错位容许误差(R1)范围内的最小距离小的直径。
申请公布号 CN101634830A 申请公布日期 2010.01.27
申请号 CN200910164649.6 申请日期 2009.07.27
申请人 卡西欧计算机株式会社 发明人 细渊博幸
分类号 G04C3/00(2006.01)I;G04C3/14(2006.01)I;G04C9/00(2006.01)I;G01D5/32(2006.01)I;G04B37/04(2006.01)I 主分类号 G04C3/00(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 李香兰
主权项 1、一种光学式旋转体位置检测装置,其具有:发光组件(31),其按照发光的方式构成;光检测组件(32),其按照检测光的方式构成;固定支承体(6、7),其支承发光组件(31)和光检测组件(32)使发光组件(31)和光检测组件(32)彼此相对分离,并使光检测组件(32)检测来自发光组件(31)的光;旋转体(20),其构成为,按照横穿连结发光组件(31)和光检测组件(32)的光轴(13a)的方式每次以规定时间间隔旋转规定角度,且包含在光轴(13a)交叉的旋转轨迹上配置的基准位置透光孔(21a),在从使基准位置透光孔(21a)的中心与光轴(13a)一致的基准位置进行规定时间间隔的规定角度的一次旋转移动后,将基准位置透光孔(21a)的周缘配置在基准位置的基准位置透光孔(21a)的周缘外侧,所述光学式旋转体位置检测装置的特征在于,还具有透光限制组件(15a、61),与固定支承体(6、7)一体设置,配置在与光轴(13a)交叉的位置,容许光的透过且限制透过的光的直径,透光限制组件(15a、61)将透过它的光的直径限制为,比从随着旋转体(20)的规定时间间隔的规定角度的一次旋转移动而在基准位置透光孔(21a)中产生的错位容许误差(R1)的范围内的基准位置透光孔(21a)的周缘到光轴(13a)的最小距离小的直径。
地址 日本国东京都