| 发明名称 | 眼镜片光学质量测量装置 | ||
| 摘要 | 一种光学技术领域的眼镜片光学质量测量装置。本发明包括：准直光系统、二维光线调节系统、二维眼镜旋转架、检测系统。准直光系统位于最前端，二维光线调节系统呈L形并位于准直光系统之后，二维光线调节系统之后依次为二维眼镜旋转架、检测系统，被测眼镜放在二维眼镜旋转架上。准直光系统、二维光线调节系统、二维眼镜旋转架、检测系统的中心同轴。本发明能正确和精确地检测眼镜的像差，特别是高阶像差且更有效地评估眼镜的像差对人眼视力的影响。 | ||
| 申请公布号 | CN101055222A | 申请公布日期 | 2007.10.17 |
| 申请号 | CN200710041119.3 | 申请日期 | 2007.05.24 |
| 申请人 | 上海交通大学 | 发明人 | 任秋实;文静;诸仲夏 |
| 分类号 | G01M11/02(2006.01) | 主分类号 | G01M11/02(2006.01) |
| 代理机构 | 上海交达专利事务所 | 代理人 | 王锡麟;王桂忠 |
| 主权项 | 1、一种眼镜片光学质量测量装置，包括：准直光系统、二维光线调节系统、二维眼镜旋转架、检测系统；其特征在于，准直光系统位于最前端，二维光线调节系统呈L形并位于准直光系统之后，二维光线调节系统之后依次为二维眼镜旋转架、检测系统，被测眼镜放在二维眼镜旋转架上，准直光系统、二维光线调节系统、二维眼镜旋转架、检测系统的中心同轴。 | ||
| 地址 | 200240上海市闵行区东川路800号 | ||