发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 本发明之目的在于,即使不采用剖面观察,亦可确认半导体基板上所形成之开口部的形成状态者。本发明之半导体装置,系以使半导体基板(1)上所形成之焊垫电极(3)露出之方式,从基板背面形成开口部,并经由此开口部而在焊垫电极(3)形成配线层(10),在如此的半导体装置中,系具备下列特征,亦即,在切割线上形成用来监视上述开口部的形成状态之监视开口部(6b)。
申请公布号 TW200618244 申请公布日期 2006.06.01
申请号 TW094132615 申请日期 2005.09.21
申请人 三洋电机股份有限公司 发明人 龟山工次郎;铃木彰
分类号 H01L23/544 主分类号 H01L23/544
代理机构 代理人 洪武雄;陈昭诚
主权项
地址 日本