| 摘要 |
本発明は、超音波伝送によって対象物を検査する方法である。これは、検査されるべき対象物と同じ幾何学形状を有する対比試験部品を覆うように超音波を掃射し、そのマッピングを得る（１２００）ために、試験部品を通して伝送された振幅を測定する（１１００）ステップにおいて、超音波ビームは対比ゲインで増幅されるステップと、マッピングの各点で一定となる、試験部品を通して伝送される超音波ビームの振幅を得るために、対比試験部品へ掃射中に、特定点で対比ゲインに加えられるべきゲイン補正を決定する（１３００）ステップと、検査されるべき対象物を覆うように超音波ビームを掃射し、伝送振幅を測定する（２１００）ステップにおいて、掃射中に様々な点に加えられるゲインは、前記補正に基づいて補正された対比ゲインに対応するステップとから成るステップとを備える。 |
