发明名称 |
利用漫射反射之测量提高X光反射测量ENHANCEMENT OF X-RAY REFLECTOMETRY BY MEASUREMENT OF DIFFUSE REFLECTIONS |
摘要 |
本发明揭示一种用于检查具有一表面层之一样本的方法。该方法包括获得该样本之一第一反射比光谱,同时采用X光之一准直光束而照射该样本,并且处理该第一反射比光谱以测量该样本之一漫射反射特性。获得该样本之一第二反射比光谱,同时采用该等X光之一会聚光束而照射该样本。使用该漫射反射特性来分析该第二反射比光谱,以便决定该样本之该表面层的一特征。 |
申请公布号 |
TW200619612 |
申请公布日期 |
2006.06.16 |
申请号 |
TW094125805 |
申请日期 |
2005.07.29 |
申请人 |
乔丹菲利应用放射有限公司 |
发明人 |
大卫 伯曼;艾萨克 马洛;伯瑞斯 约辛;阿摩司 格维兹曼 |
分类号 |
G01N23/20 |
主分类号 |
G01N23/20 |
代理机构 |
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代理人 |
陈长文 |
主权项 |
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地址 |
以色列 |