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Bekannte Verfahren kalibrieren den Verfahrweg und/oder die Winkellage von Haltevorrichtungen in Einrichtungen zur Herstellung von elektrischen Baugruppen durch optische Messungen der Lage von Nachbildungen (2) elektrischer Bauelemente, die auf ein Kalibriersubstrat (1) bestückt sind. Dazu dienen Markierungen (4) auf den Nachbildungen (2) und lokale Referenzmarken (3) auf dem Kalibriersubstrat (1). Leiterplattenkameras, die als optische Sensoren eingesetzt werden, weisen eine ausgeprägte Kameraverzerrung auf, die die Kalibrierung erschwert. DOLLAR A Durch das erfindungsgemäße Verfahren, die Vorrichtung sowie das Kalibriersubstrat (1) wird ein Sensorkorrekturfaktor ermittelt, in dem die Lage zweier Korrekturmarken (5, 6), die in einem vorgegebenen Nennabstand (a) und einer vorgegebenen Lage zueinander auf dem Kalibriersubstrat (1) angebracht sind, mit der Leiterplattenkamera vermessen werden und das Ergebnis der Messung mit dem Nennabstand (a) verglichen wird.
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