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发明名称
封止層被覆半導体素子および半導体装置の製造方法
摘要
封止層被覆半導体素子の製造方法は、半導体素子を支持台の上に配置する配置工程、剥離層と、剥離層の下に積層され、熱硬化性樹脂からなる完全硬化前の封止層とを備える封止シートの封止層によって、半導体素子を埋設して封止する封止工程、および、封止工程の後に、封止層を加熱して硬化させる加熱工程を備える。加熱工程は、封止シートを、支持台に向けて、機械加圧しながら、第1温度で加熱する第1加熱工程、および、第1加熱工程の後に、封止シートを、第1温度より高温の第2温度で加熱する第2加熱工程を備える。
申请公布号
JPWO2014014007(A1)
申请公布日期
2016.07.07
申请号
JP20130534090
申请日期
2013.07.17
申请人
日東電工株式会社
发明人
三谷 宗久;江部 悠紀;大薮 恭也
分类号
H01L21/56
主分类号
H01L21/56
代理机构
代理人
主权项
地址
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