| 摘要 |
본 발명은 후판의 표면을 촬영하여 원본영상을 생성하는 표면영상촬영부; 상기 원본영상을 필터링하여 필터링 영상을 생성하는 필터링부와, 상기 필터링 영상을 이진화하여 제1 이진화영상을 생성하는 제1 이진화부를 포함하고, 상기 제1 이진화영상에서 제1 결함을 검출하는 제1 결함검출부; 상기 원본영상의 픽셀의 열마다 해당 열의 밝기값에 대한 기준값에 기초하여 해당 열의 영상을 이진화하여 상기 원본영상의 제2 이진화영상을 생성하는 제2 이진화부와, 상기 제1 이진화영상과 상기 제2 이진화영상을 조합하여 결함후보 이진화영상을 생성하는 결함후보검출부를 포함하고, 상기 이진화영상의 블롭(blob)마다 적어도 둘의 제2 결함를 분류하여 단계적으로 검출하는 제2 결함검출부를 포함하는 후판 표면 결함 탐상 장치를 제공하여, 요철결함 이외에, 특징값이 큰 순으로 오일결함, 칩결함, 스크랩과 스케일을 단계적으로 검출함으로써, 교차 조명으로 패턴이 나타나지 않는 결함들을 분류하여 검출할 수 있는 유리한 효과를 제공한다. |
