Polarimetrisches Verfahren zur Bestimmung der (Haupt-)Schwingungsebene polarisierten Lichts auf etwa 0,1m DEG und miniaturisierbare Vorrichtung zu seiner Durchführung

摘要

Verfahren zur sehr genauen Bestimmung der Schwingungsebene polarisierten Lichtes, bei dem die Bestimmungsgröße - der Winkel zwischen der Schwingungsebene und einer Bezugsebene - durch Reflexion des Meßstrahls an einer oder mehreren Oberflächen optisch verstärkt, der Lichtstrahl in Teilstrahlen zerlegt, die Lichtintensitäten der Teilstrahlen gemessen und der Quotient der Intensitäten dieser Teilstrahlen als eichpflichtiges Meßsignal gebildet wird, sowie eine Vorrichtung, insbesondere in miniaturisierbarer Form, zur Durchführung dieses Verfahrens.