使用开尔文电桥的集成电路(IC)测试插座

摘要

集成电路测试插座被配置为通过创建呈嵌套以节省空间的紧密间隔的连接器和对向转动的杆，来与开尔文连接器一起使用。这些连接器被成形为与芯片相接触并且将驱动信号和感测信号通信至测试器，从而使得能够测量芯片的实际电阻。

主权项

一种用于电气连接集成电路的插座，其用于使所述集成电路即IC电气连接至板，使得能够向所述板发送信号，所述插座包括：基座，用于在所述基座上收纳所述集成电路；长形弹性管状构件，其容纳在所述基座中；多个驱动座，其配置在所述长形弹性管状构件的一侧，用于向下方的测试装置传导驱动信号；多个感测座，其配置在所述长形弹性管状构件的相对侧，用于向下方的测试装置传导感测信号；驱动杆，其与各所述驱动座协作以与所述集成电路相接触，其中各所述驱动杆被所述长形弹性管状构件施力而处于解除接合位置；感测杆，其与各所述感测座协作以与所述集成电路相接触，其中各所述感测杆被所述长形弹性管状构件施力而处于解除接合位置，其中，作用于所述驱动杆的向下力使所述驱动杆向着所述感测座转动，并且作用于所述感测杆的向下力使所述感测杆向着所述驱动座转动，以及始终维持所述驱动杆和所述感测杆之间的间隔，使得在所述驱动杆和所述感测杆之间不存在接触。