发明名称 | 气压扫描半导体激光器线宽测试仪 | ||
摘要 | 气压扫描半导体激光器线宽测试仪是一种激光器参数测试仪器,它由望远镜系统、密封气压室、F-P标准具和气压控制系统及压力传感器等组成;可以用x-y记录仪直接画出激光的线形和模式,也可以同时用Z-80单板机直接读出激光器线宽的数值;具有结构简单、操作方便、性能稳定和成本低等优点,对环境条件无特殊要求,测量精度较高;不仅可以测量半导体激光器线宽,还可以制成干涉仪,用于测量气体折射率和微位移。 | ||
申请公布号 | CN87208603U | 申请公布日期 | 1988.05.11 |
申请号 | CN87208603 | 申请日期 | 1987.05.25 |
申请人 | 南京工学院 | 发明人 | 汪开源;高中林;章建洛;孟晓晶 |
分类号 | G01B11/02 | 主分类号 | G01B11/02 |
代理机构 | 南京工学院专利事务所 | 代理人 | 楼高潮;沈廉 |
主权项 | 1、气压扫描半导体激光器线宽测试仪由望远镜系统、F-P标准具和气压室等组成,其特征在于F-P标准具放在一个密封气压空中,控制气压室(3)中气体变化的气压控制系统(9)与气压室相通,气压室还与反映气压信号的压力传感器(5)相连。 | ||
地址 | 江苏省南京市四牌楼2号 |