A semiconductor memory with multiple clocking for test mode entry,申请号EP19910307423-传众专利搜索

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发明名称	A semiconductor memory with multiple clocking for test mode entry
摘要
申请公布号	EP0471541(B1)	申请公布日期	1997.03.19
申请号	EP19910307423	申请日期	1991.08.12
申请人	SGS-THOMSON MICROELECTRONICS, INC.	发明人	MCCLURE, DAVID CHARLES;COKER, THOMAS ALLYN
分类号	G06F11/22;G01R31/317;G11C29/14;G11C29/46;(IPC1-7):G06F11/26;G11C29/00	主分类号	G06F11/22
代理机构		代理人
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