发明名称 | 去除热障涂层中陶瓷层的方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种去除热障涂层中陶瓷层的方法,采用将热障涂层试件置入580℃~800℃熔融状态氢氧化钾(KOH)+氢氧化钠(NaOH)溶液中浸泡3~20min来去除陶瓷层。该方法去除陶瓷层完全,对热障涂层试件无损害,对所需实验设备要求较低,去除时间短等特点。 | ||
申请公布号 | CN1635180A | 申请公布日期 | 2005.07.06 |
申请号 | CN200410103489.1 | 申请日期 | 2004.12.30 |
申请人 | 北京航空航天大学 | 发明人 | 宫声凯;张春霞;徐惠彬 |
分类号 | C23G1/28 | 主分类号 | C23G1/28 |
代理机构 | 北京永创新实专利事务所 | 代理人 | 官汉增 |
主权项 | 1、一种去除热障涂层中陶瓷层的方法,其特征在于:包括如下步骤(A)按配比称取氢氧化钾(KOH)、氢氧化钠(NaOH)粉混合均匀置入镍坩埚中;(B)加热盐浴炉至500℃~800℃;(C)将上述(A)中装有氢氧化钾(KOH)+氢氧化钠(NaOH)混合料的镍坩埚放入盐浴炉中,加热混合料至580℃~800℃;(D)将热障涂层试件置入上述(C)处理的镍坩埚中,控制反应时间3~20min;(E)取出经上述(D)处理后的热障涂层试件并置入常温冷水中冲洗3~5min;(F)将经上述(E)处理后的热障涂层试件进行表面湿吹砂处理,去除热障涂层中的部分粘结层。 | ||
地址 | 100083北京市海淀区学院路37号 |