发明名称 | 对焦位置检测方法 | ||
摘要 | 一种对焦位置检测方法,它主要包含:目标物摄像过程:累积浓淡比运算过程:部分图像设定过程;区域设定过程;左区域运算过程;右区域运算过程;和浓淡比运算过程。按照本发明的对焦位置检测方法,由于取从部分图像中的基准像素的特定方向的左右区域中的浓度数据获得的运算结果的比,所以不用复杂的算法就能消除图像全局浓度变动的影响。 | ||
申请公布号 | CN1050253C | 申请公布日期 | 2000.03.08 |
申请号 | CN94108760.3 | 申请日期 | 1994.07.30 |
申请人 | 松下电器产业株式会社 | 发明人 | 汤川典昭;木村悟;佐藤健夫 |
分类号 | H04N5/225;G03B13/00 | 主分类号 | H04N5/225 |
代理机构 | 上海专利商标事务所 | 代理人 | 孙敬国 |
主权项 | 1.一种对焦位置检测方法,其特征在于,它具有:通过其光学系统的摄像获得含有必须相对于光学系统对焦的目标物的量化的二维图像数据的过程;在该二维图像内设定预定区域的过程;对由预定区域内的基准像素与其特定方向线上的周围像素构成的部分图像进行设定的部分图像设定过程;在相对于基准像素的特定方向线上的左右设定左区域和右区域的左右区域设定过程;用设定成左区域用的方法对左区域各像素的浓度数据进行运算的左区域运算过程;用设定成右区域用的方法对右区域各像素的浓度数据进行运算的右区域运算过程;将左、右区域运算过程的运算结果的比作为浓淡比所求出的浓淡比运算过程;在预定区域内重复浓淡比运算过程对使用作浓淡比的评价函数进行运算的过程;通过改变目标物的光学位置重复上述过程以求得各光学位置上的多个评价函数运算值的过程;根据该结果获得相对于目标物的光学系统的对焦位置的过程。 | ||
地址 | 日本大阪府 |