发明名称 Verfahren zum Ausbilden einer dielektrischen Schicht
摘要 Verfahren, umfassend: Ausbilden (420) einer zweiten Schicht (301) über einer ersten Schicht (302); Ausbilden (424) einer Maske (304) über der zweiten Schicht (301); Entfernen (428) eines Abschnitts der Maske (304), um einen Abschnitt der zweiten Schicht (301) zu exponieren; Ausbilden (440) eines amorphen dielektrischen Materials auf der exponierten zweiten Schicht (301) und nicht über der verbliebenen Maske (304) unter Verwendung von Atomschichtabscheidung, wobei mindestens ein Abschnitt der zweiten Schicht (301) noch von der Maske (304) bedeckt ist, und Umwandeln (448) des amorphen dielektrischen Materials in ein kristallines dielektrisches Material (310).
申请公布号 DE102008000373(B4) 申请公布日期 2016.06.09
申请号 DE20081000373 申请日期 2008.02.21
申请人 IMEC vzw.;Infineon Technologies AG 发明人 Jaschke, Gert;Stapelmann, Chris;Tilke, Armin
分类号 H01L21/316;H01L21/283;H01L21/32;H01L21/336 主分类号 H01L21/316
代理机构 代理人
主权项
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