发明名称 |
Verfahren zum Ausbilden einer dielektrischen Schicht |
摘要 |
Verfahren, umfassend: Ausbilden (420) einer zweiten Schicht (301) über einer ersten Schicht (302); Ausbilden (424) einer Maske (304) über der zweiten Schicht (301); Entfernen (428) eines Abschnitts der Maske (304), um einen Abschnitt der zweiten Schicht (301) zu exponieren; Ausbilden (440) eines amorphen dielektrischen Materials auf der exponierten zweiten Schicht (301) und nicht über der verbliebenen Maske (304) unter Verwendung von Atomschichtabscheidung, wobei mindestens ein Abschnitt der zweiten Schicht (301) noch von der Maske (304) bedeckt ist, und Umwandeln (448) des amorphen dielektrischen Materials in ein kristallines dielektrisches Material (310). |
申请公布号 |
DE102008000373(B4) |
申请公布日期 |
2016.06.09 |
申请号 |
DE20081000373 |
申请日期 |
2008.02.21 |
申请人 |
IMEC vzw.;Infineon Technologies AG |
发明人 |
Jaschke, Gert;Stapelmann, Chris;Tilke, Armin |
分类号 |
H01L21/316;H01L21/283;H01L21/32;H01L21/336 |
主分类号 |
H01L21/316 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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