发明名称 SEMICONDUCTOR DEVICE AND SOLID-STATE IMAGING ELEMENT
摘要 본 기술은 보다 간단하게 크랙 내성을 향상시킬 수 있도록 하는 반도체 장치 및 고체 촬상 소자에 관한 것이다. 반도체 장치는, Si 기판 및 그 Si 기판상에 적층된 배선층으로 이루어지는 상측 기판과, Si 기판 및 그 Si 기판상에 적층된 배선층으로 이루어지고, 상측 기판과 맞붙여진 하측 기판을 갖고 있다. 또한, 상측 기판에는 와이어 본딩용 또는 프로빙용의 패드가 형성되어 있고, 그 패드로부터 하측 기판의 Si 기판까지의 사이의 각 배선층에는, 와이어 본딩용 또는 프로빙용의 패드의 모서리나 변 부분을 보호하기 위한 패드가 방사선 형상으로 적층되어 마련되어 있다. 본 기술은, 고체 촬상 소자에 적용할 수 있다.
申请公布号 KR20160067844(A) 申请公布日期 2016.06.14
申请号 KR20167008139 申请日期 2014.09.19
申请人 SONY CORPORATION 发明人 KAGAWA YOSHIHISA;FUJII NOBUTOSHI;FUKASAWA MASANAGA;KANEGUCHI TOKIHISA;HAGIMOTO YOSHIYA;AOYAGI KENICHI;MITSUHASHI IKUE
分类号 H01L27/146;H01L21/768;H01L23/00;H01L23/48 主分类号 H01L27/146
代理机构 代理人
主权项
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