カットされた原石のパラメータの測定

摘要

カットされた原石が単一の測定場所に位置づけられている間に、該カットされた原石の複数のパラメータを測定する装置及び対応する方法である。装置は複数の光源を含み、各々が、放出される光が測定場所の少なくとも一部を照射するように、複数の放出波長又は波長レンジのうちの異なる１つにおいて光を放出するように構成される。装置は、複数のパラメータを測定するために複数の感知波長又は波長レンジにおいて光を感知するように構成されたセンサアセンブリをさらに含む。感知される光は、測定場所に位置するカットされた原石の照射の結果として、測定場所からセンサアセンブリにおいて受信される。