发明名称 TEST DEVICE FOR SOP SEMICONDUCTOR PARTS
摘要
申请公布号 JPH0634708(A) 申请公布日期 1994.02.10
申请号 JP19920189766 申请日期 1992.07.17
申请人 FUJITSU LTD 发明人 KATSU MIHARU
分类号 G01R1/073;G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R1/073
代理机构 代理人
主权项
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