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发明名称
TEST DEVICE FOR SOP SEMICONDUCTOR PARTS
摘要
申请公布号
JPH0634708(A)
申请公布日期
1994.02.10
申请号
JP19920189766
申请日期
1992.07.17
申请人
FUJITSU LTD
发明人
KATSU MIHARU
分类号
G01R1/073;G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26
主分类号
G01R1/073
代理机构
代理人
主权项
地址
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