INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME,申请号KR19997008452-传众专利搜索

发明名称	INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME
摘要
申请公布号	KR20000076351(A)	申请公布日期	2000.12.26
申请号	KR19997008452	申请日期	1999.09.17
申请人		发明人
分类号	G06F11/22;G06F12/14;G06F21/24;G06K19/07	主分类号	G06F11/22
代理机构		代理人
主权项
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