| 发明名称 | 使用电源监控器校准电源 | ||
| 摘要 | 处理系统(100)包括一个或多个电源监控器(PSM)(200)，所述一个或多个电源监控器(200)用于测量对应于所述处理系统中的一个或多个位置的一个或多个第一电压。在所述处理系统执行一个或多个代码循环的同时执行所述测量。所述处理系统还包括校准逻辑(135，705)，所述校准逻辑(135，705)用于基于参考电压与所述一个或多个第一电压的比较来修改提供给所述处理系统的第二电压。所述参考电压基于所述处理系统先前对所述一个或多个代码循环的执行来确定。 | ||
| 申请公布号 | CN106133640A | 申请公布日期 | 2016.11.16 |
| 申请号 | CN201580016153.8 | 申请日期 | 2015.06.23 |
| 申请人 | 超威半导体公司;ATI科技无限责任公司 | 发明人 | 亚伦·J·格勒纳;罗伯特·A·赫什伯格;斯里拉姆·桑巴穆尔蒂;塞缪尔·D·纳夫齐格;克里斯多夫·E·特瑞斯勒;舒-简·康;约瑟夫·P·莎伦;克里希纳·赛·贝尔努乔;阿斯温·奇恩乔利;迈克尔·J·奥斯丁;史蒂文·F·利佩;乌玛尔·B·奇马 |
| 分类号 | G06F1/28(2006.01)I;G06F1/32(2006.01)I;G01R31/01(2006.01)I | 主分类号 | G06F1/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人 | 樊英如;张静 |
| 主权项 | 一种设备，所述设备包括：至少一个电源监控器(PSM)(200)，所述至少一个电源监控器(200)用于在处理系统(100)执行至少一个代码循环的同时测量对应于所述处理系统中的至少一个位置的至少一个第一电压；以及校准逻辑(135，705)，所述校准逻辑(135，705)用于基于参考电压与所述至少一个第一电压的比较来修改提供给所述处理系统的第二电压，其中所述参考电压是基于所述处理系统先前对所述至少一个代码循环的执行。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||