发明名称 | 扫描系统的校准装置和方法 | ||
摘要 | 一种扫描系统的校准装置,其校准板上包含至少一第一解析度分析图样,第一解析度分析图样包括一分析该透镜的水平解析度的垂直线组,垂直线组的第一垂直线距离为相等的;第二解析度分析图样,邻近于第一解析度分析图样并形成在该校准板上,该第二解析度分析图样包括每一不透明线距为相等的不透镜线组。本发明的透镜和影像感知器校准方法与过去相比较要简单得多,能够简单明显地进行边界校准与解析度分析。 | ||
申请公布号 | CN1233907A | 申请公布日期 | 1999.11.03 |
申请号 | CN98101655.3 | 申请日期 | 1998.04.24 |
申请人 | 鸿友科技股份有限公司 | 发明人 | 李酉文;蔡振财;陈锡闵 |
分类号 | H04N1/04 | 主分类号 | H04N1/04 |
代理机构 | 北京三友专利代理有限责任公司 | 代理人 | 刘芳 |
主权项 | 1、一种扫描系统的校准装置,其特征在于:它包含设置于一感知器的前方以校正感知器和透镜的校正板,该透镜位于该校正板和该感知器之间;集成电路回应由该影像感知器产生一影像信号;储存该影像信号的暂存器连接集成电路;处理该影像信号的电脑连接到集成电路;显示影像信号的显示器连接到电脑。 | ||
地址 | 台湾省新竹科学工业园区新竹市研发二路25号 |