发明名称 | 污染余量的判定方法 | ||
摘要 | 在本发明中,当污物附着在传感器上时,因为传感器输出提高,所以在无遮挡物的状态下,比较传感器输出值和预先存储着的污染临界值,当输出值比污染临界值大时,判定为对应于污染无余量,显示在显示器上。当输出值比临界检验值小时,判定为对应于污染有余量。由此就可以只检出附着污物的传感器,通过清洁此传感器,就可以防止由污染物引起的传感器故障。再有,在比较污染临界值前,使发光元件的电流处于弱电流状态。 | ||
申请公布号 | CN1065632C | 申请公布日期 | 2001.05.09 |
申请号 | CN95109625.7 | 申请日期 | 1995.07.20 |
申请人 | 株式会社日立制作所 | 发明人 | 田崎俊彦 |
分类号 | G01V8/12 | 主分类号 | G01V8/12 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 范本国 |
主权项 | 1.一种污染余量的判定方法,该方法包括以下步骤:通过发光电流控制元件控制发光元件的发光动作;检出与被控制的该发光元件对应的光接收元件的输出值;为判定该发光元件和光接收元件间有无遮挡物,预先设定限幅电平;比较该光接收元件的输出值和上述限幅电平,从而判定有无遮挡物;其特征在于:将各光学传感器的污染临界检验值预先存储在一个存储部分中;将上述光接收元件与存储在上述存储部分中的、与上述光接收部件相对应的污染临界检验值进行比较;并且通过判定上述光接收元件的输出值是大于还是小于上述的污染临界检验值来判定对于污染是否还存在余量。 | ||
地址 | 日本东京 |