发明名称 |
一种烧录可写式光盘的方法及其装置 |
摘要 |
一种烧录可写式光盘的方法及其装置,采用光学拾取器,当烧录光盘时,可正确检测光盘缺陷,避免烧录失败。首先,决定最佳烧录功率。接着,调整SBAD信号以产生校正SBAD信号,以使校正SBAD信号在写入功率阶段与读取功率阶段电平相同。于是在校正SBAD信号衰减缺陷门限值时,即可检测到光盘缺陷处并避开它,进而避免烧录错误而造成烧录失败的情况发生。 |
申请公布号 |
CN1293539C |
申请公布日期 |
2007.01.03 |
申请号 |
CN200410095746.1 |
申请日期 |
2004.11.17 |
申请人 |
威盛电子股份有限公司 |
发明人 |
陈仕芳;蔡金印 |
分类号 |
G11B7/00(2006.01);G11B7/0045(2006.01);G11B7/125(2006.01) |
主分类号 |
G11B7/00(2006.01) |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
黄小临;王志森 |
主权项 |
1.一种用于光驱的烧录可写式光盘的方法,该光驱包括光学拾取器,该方法包括:决定最佳功率;以该最佳功率在该光盘的非数据区试写,当该光学拾取器在写入功率阶段时,测量子射束加法器信号的第一电平,当该光学拾取器在读取功率阶段时,测量该子射束加法器信号的第二电平,比较该第一电平与该第二电平的电平差异,校正该子射束加法器信号的增益值,以产生校正子射束加法器信号,以使得该校正子射束加法器信号于写入功率阶段与读取功率阶段时都具有同样的电平;以该最佳功率烧录该光盘;依据该校正子射束加法器信号的状态检测该光盘的缺陷处;以及当检测到该光盘的缺陷处时,避开缺陷处后继续烧录。 |
地址 |
台湾省台北县 |