发明名称 |
具有精确定位微致动器的磁头折片组合的特性测试方法 |
摘要 |
本发明公开了一种测试磁头折片组合特性的方法。所述磁头折片组合包括磁头和用于精确地把所述磁头关于磁性媒介定位的微致动器。本发明的关键是分别在不驱动微致动器、使用工作直流电压在正方向上驱动微致动器以及使用工作直流电压在负方向上驱动微致动器的条件下获得三个磁道中心值,最后对所述三个磁道中心值进行计算,最终获得所述微致动器的位移特性。本发明能在低工作电压条件下通过把所述磁头朝偏离磁道方向移动一个预定距离来测试所述磁头折片组合的特性,这种操作有助于确定所述三个磁道中心值,进而确保本发明具有精确的测试功能。 |
申请公布号 |
CN101339772A |
申请公布日期 |
2009.01.07 |
申请号 |
CN200710128711.7 |
申请日期 |
2007.07.03 |
申请人 |
新科实业有限公司 |
发明人 |
姚明高 |
分类号 |
G11B5/455(2006.01);G11B5/596(2006.01) |
主分类号 |
G11B5/455(2006.01) |
代理机构 |
广州三环专利代理有限公司 |
代理人 |
郝传鑫 |
主权项 |
1.一种测试磁头折片组合特性的方法,所述磁头折片组合包括磁头和用于精确地把所述磁头关于磁性媒介定位的微致动器,其特征在于,所述方法包括如下步骤:(1)写初始磁道信息到所述磁性媒介上,读出所述初始磁道信息,测量读出的初始磁道信息的初始磁道平均振幅分布,以及根据所述初始磁道平均振幅分布计算磁道中心值OFFSET 1;(2)判断将被施加到所述微致动器的工作直流电压是否高于一阀值,如果不是,执行步骤(3)-(6),如果是,转到步骤(7);(3)把所述磁头朝偏离磁道方向移动一预定距离D;(4)施加所述工作直流电压到所述微致动器以驱动所述微致动器在正方向位移,同时写第一磁道信息到所述磁性媒介上,读出所述第一磁道信息,测量读出的第一磁道信息的第一磁道平均振幅分布,以及根据所述第一磁道平均振幅分布计算磁道中心值OFFSET 2;(5)施加所述工作直流电压到所述微致动器以驱动所述微致动器在负方向位移,同时写第二磁道信息到所述磁性媒介上,读出所述第二磁道信息,测量读出的第二磁道信息的第二磁道平均振幅分布,以及根据所述第二磁道平均振幅分布计算磁道中心值OFFSET 3;(6)根据公式((OFFSET 2-OFFSET 1-D)+(D-(OFFSET 3-OFFSET 1)))/2计算所述微致动器的位移;(7)施加所述工作直流电压到所述微致动器以驱动所述微致动器在正方向位移,同时写第一磁道信息到所述磁性媒介上,读出所述第一磁道信息,测量读出的第一磁道信息的第一磁道平均振幅分布,以及根据所述第一磁道平均振幅分布计算磁道中心值OFFSET 2’;(8)施加所述工作直流电压到所述微致动器以驱动所述微致动器在负方向位移,同时写第二磁道信息到所述磁性媒介上,读取所述第二磁道信息,测量读出的第二磁道信息的第二磁道平均振幅分布,以及根据所述第二磁道平均振幅分布计算磁道中心值OFFSET 3’;(9)根据公式(OFFSET 2’+OFFSET 3’)/2计算所述微致动器的位移。 |
地址 |
中国香港新界沙田香港科学园科技大道东六号新科中心 |