发明名称 测试架
摘要 本实用新型公开一种测试架,包括基架、转动轴及固定支架,其中,固定支架通过转动轴架设于基架,且包括一本体,该本体为套设于转动轴并与其构成一整体,在该本体上等间距分布设置有若干以转动轴为中心的且垂直于本体并相互平行的型固定架,该固定架每一支杆间相互垂直的面上均设置的滑动槽,待测物侧边可卡入该滑动槽中;在每一滑动槽上均设有固定待测物的第一锁块和第二锁块,且第一锁块以顶触于待测物将其夹持于支杆间;第二锁块对应于滑动槽位置处凹设夹持槽,待测物侧边可卡入该夹持槽中。通过上述结构,待测物可稳定的固定夹持于固定支架,其可转动式的结构从而使得在进行一些环境测试时,能够均衡受测,避免单面或者局部等被测的情况。
申请公布号 CN201037845Y 申请公布日期 2008.03.19
申请号 CN200720050911.0 申请日期 2007.04.28
申请人 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 发明人 任春吉
分类号 G01R1/04(2006.01);G01R31/28(2006.01) 主分类号 G01R1/04(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种测试架,其特征在于,包括一基架,其由基块和固定装设于基架上的撑杆组成;一转动轴,其为活动设于所述基架的撑杆上;以及一固定支架,其通过上述转动轴而架设于所述基架上,且其具有一本体,该本体为套设于上述转动轴并与其构成一整体,又,在该本体上等间距分布设置有若干以所述转动轴为中心的且垂直于本体并相互间平行的固定架,其中,所述固定架每一支杆间相互垂直的面上均设有滑动槽,并且于每一支杆上每一滑动槽上均设有第一琐块和第二琐块。
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