发明名称 辐射成像系统
摘要 公开了一种辐射成像系统,包括:加速器,用于产生透射待检查物体的射线和同步信号;具备多个探测模块的探测设备,用于探测射线;信号处理装置,根据同步信号产生选择信号,以选择一个探测模块对射线进行探测;数据变换装置,将所述探测模块所探测的信号变换成数字数据,并缓存在所述信号处理装置中;以及通讯控制装置,与图像处理设备连接,并将所述信号处理装置中缓存的数字数据通过所述连接传输到所述图像处理设备。本发明的系统允许当数据量很大时时,都能够高速稳定的采集数据和变换数据,并正确可靠地传输数据。
申请公布号 CN101339147A 申请公布日期 2009.01.07
申请号 CN200710118200.7 申请日期 2007.07.02
申请人 清华大学;同方威视技术股份有限公司 发明人 康克军;陈志强;李元景;王利明;刘以农;孙尚民;张丽;刘耀红;杨光;张清军;刘文国;梁思远;郭振斌;胡斌;邓艳丽;吴玉成
分类号 G01N23/04(2006.01);G01T1/202(2006.01);B65G7/00(2006.01);G08C17/02(2006.01);H04L12/28(2006.01) 主分类号 G01N23/04(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 王波波
主权项 1.一种辐射成像系统,包括:加速器,用于产生透射待检查物体的射线和同步信号;探测设备,用于探测射线;信号处理装置,根据同步信号产生选择信号,以选择一个探测设备对射线进行探测;数据变换装置,将所述探测设备所探测的信号变换成数字数据,并缓存在所述信号处理装置中;以及通讯控制装置,与图像处理设备连接,并将所述信号处理装置中缓存的数字数据通过所述连接传输到所述图像处理设备。
地址 100084北京市海淀区清华大学