| 发明名称 |
METHOD AND APPARATUS FOR THE NON-DESTRUCTIVE TESTING OF SEMI-PRODUCTS OR OF COMPONENTS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0354550(A3) |
申请公布日期 |
1990.09.12 |
| 申请号 |
EP19890114725 |
申请日期 |
1989.08.08 |
| 申请人 |
INDUSTRIEANLAGEN-BETRIEBSGESELLSCHAFT M.B.H. |
发明人 |
ZIEGLTRUM, WERNER |
| 分类号 |
G01N27/90;(IPC1-7):G01N27/90 |
主分类号 |
G01N27/90 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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