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发明名称
MULTIBIT TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE
摘要
申请公布号
JPH0854446(A)
申请公布日期
1996.02.27
申请号
JP19950020499
申请日期
1995.02.08
申请人
L JII SEMIKON CO LTD
发明人
YONGUUUEON JIEON
分类号
G01R31/28;G11C29/00;G11C29/12;G11C29/34;(IPC1-7):G01R31/28
主分类号
G01R31/28
代理机构
代理人
主权项
地址
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