| 发明名称 |
DEFECT ANALYZING MEMORY FOR SEMICONDUCTOR MEMORY TEST DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH10144095(A) |
申请公布日期 |
1998.05.29 |
| 申请号 |
JP19960291400 |
申请日期 |
1996.11.01 |
| 申请人 |
ADVANTEST CORP |
发明人 |
TABATA MAKOTO;SATOU SHINYA |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3193;G06F11/22;G11C29/44;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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