发明名称 具有菊链式测试线路之基板条
摘要 一种基板条系为至少两层线路层之型式。该基板条包含复数个基板单元及至少一测试基板单元。该复数个基板单元分别具有一第一电路。该测试基板单元具有一菊链式测试线路,该菊链式测试线路包含一第二电路、复数个层间连接线及复数个同层连接线,其中该第二电路系相同于该第一电路,且该等层间连接线、该等同层连接线系与该第二电路电性串联,而使该菊链式测试线路形成具有两量测点之回路。
申请公布号 TW200720661 申请公布日期 2007.06.01
申请号 TW094142070 申请日期 2005.11.30
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 王德峻
分类号 G01R1/00(2006.01) 主分类号 G01R1/00(2006.01)
代理机构 代理人 花瑞铭
主权项
地址 高雄市楠梓加工出口区经三路26号
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