发明名称 |
用于整个机床监测的装置 |
摘要 |
第一和第二神经网络分别相应地将从在机床加工工件之前的空转时、和在机床加工工件时产生的目标信号中提取的特征量分成正常和异常类别。基于来自第一和第二神经网络的分类结果、包括在第一神经网络中的输出层中的神经元的权重系数与由第一特征提取单元提取的特征量之间的偏差历史记录、以及包括在第二神经网络中的输出层中的神经元的权重系数与由第二特征提取单元提取的特征量之间的偏差历史记录,判断单元判断在机床加工工件之前和在机床加工工件时是否存在异常、以及判断机床中是否存在故障。 |
申请公布号 |
CN101219521A |
申请公布日期 |
2008.07.16 |
申请号 |
CN200710144175.X |
申请日期 |
2007.11.30 |
申请人 |
松下电工株式会社 |
发明人 |
池田和隆 |
分类号 |
B23Q17/00(2006.01);G01H1/00(2006.01);G01M7/02(2006.01);G06N3/06(2006.01) |
主分类号 |
B23Q17/00(2006.01) |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 |
代理人 |
蔡洪贵 |
主权项 |
1.一种用于整个机床监测的装置,包括:信号输入单元,目标信号输入到所述信号输入单元,所述目标信号是表示由机床产生的振动的电信号;第一和第二特征提取单元,所述第一和第二特征提取单元用于从目标信号中提取具有多个参数的特征量;第一和第二神经网络,所述第一和第二神经网络用于对由相应的特征提取单元提取的特征量进行分类;以及判断单元,所述判断单元用于通过使用来自每个神经网络的分类结果判断机床中的全部异常,其中,第一神经网络将从当机床在加工工件之前空转时产生的目标信号中提取的特征量分成正常和异常类别,以及其中,第二神经网络将从当机床加工工件时产生的目标信号中提取的特征量分成正常和异常类别,以及其中,基于来自第一和第二神经网络的分类结果、包括在第一神经网络中的输出层中的神经元的权重系数与由第一特征提取单元提取的特征量之间的偏差历史记录、以及包括在第二神经网络中的输出层中的神经元的权重系数与由第二特征提取单元提取的特征量之间的偏差历史记录,判断单元判断在机床加工工件之前和机床加工工件时是否存在异常、以及判断机床中是否有故障。 |
地址 |
日本大阪府 |