发明名称 |
窒化物系化合物半導体素子を製造する方法 |
摘要 |
本発明は、窒化物系化合物半導体素子を製造する方法であって、前記方法は、シリコン表面を有する成長基板(1)を準備するステップと、前記シリコン表面の上にAlxInyGa1−x−yNを有するバッファ層(2)を成長させるステップであって、但し、0≦x≦1,0≦y≦1,及びx+y≦1である、ステップと、前記バッファ層の上に半導体積層体(3)を成長させるステップと、を含み、前記バッファ層は、該バッファ層の横方向の格子定数が、第1領域(2a)では階段的又は連続的に増加するように、かつ成長方向に前記第1領域(2a)に後続する第2領域(2b)では階段的又は連続的に減少するように変化する材料組成を有し、前記バッファ層は、前記半導体積層体との界面において、前記半導体積層体の、前記バッファ層に相接する半導体層(4)よりも小さい横方向の格子定数を有することを特徴とする、方法を提供する。 |
申请公布号 |
JP2016530700(A) |
申请公布日期 |
2016.09.29 |
申请号 |
JP20160518909 |
申请日期 |
2014.05.28 |
申请人 |
オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH |
发明人 |
ヴェアナー ベルクバウアー;フィリップ ドレクセル;ペーター シュタウス;パトリック ローデ |
分类号 |
H01L21/205;C30B29/38;H01L21/20;H01L33/12;H01L33/32 |
主分类号 |
H01L21/205 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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