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发明名称 A METHOD FOR INCREMENTALLY INCREASING THE COLLECTOR AREA OF A LATERAL PNP TRANSISTOR DURING ELECTRICAL TESTING OF AN INTEGRATED DEVICE ON WAFER
摘要
申请公布号 EP0322380(A3) 申请公布日期 1991.03.13
申请号 EP19880830552 申请日期 1988.12.21
申请人 SGS-THOMSON MICROELECTRONICS S.R.L. 发明人 BERTOTTI, FRANCO;FERRARI, PAOLO;FORONI, MARIO;GATTI, MARIA TERESA
分类号 G01R31/30;H01L21/66;H01L29/08;H01L29/36;(IPC1-7):H01L29/72 主分类号 G01R31/30
代理机构 代理人
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