| 发明名称 |
Simultation method of breakdown in impact ionization |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1056025(A3) |
申请公布日期 |
2007.11.28 |
| 申请号 |
EP20000110841 |
申请日期 |
2000.05.22 |
| 申请人 |
NEC ELECTRONICS CORPORATION |
发明人 |
SAWAHATA, KOUICHI |
| 分类号 |
G06F17/50;H01L29/00;H01L29/861;H01L31/10 |
主分类号 |
G06F17/50 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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