同时指定多位检验方式和特定检验方式的半导体存储器件

摘要

该半导体器件包括：一个状态检测电路，它接收控制信号、地址信号、和行地址信号，输出定时检测信号、和检验组检测信号；以及一个检验方式设定信号产生电路，它接收行地址信号、定时检测信号、和检验组检测信号，输出多位检验方式设定信号和检验方式设定信号。该半导体器件可单独设置标准的多位检验方式，还可同时设置多位检验方式和未由JEDEC标准化的特定检验方式。

主权项

1.一种半导体器件，包括：状态检测电路(1610)，它接收至少1位的第一输入信号，用于按照第一输入信号的状态，输出至少1位的状态检测信号(TDA-TDC、TGA、TGB)；以及检验方式设定信号产生电路(1620)，它接收所说状态检测信号；当状态检测信号表示：第一输入信号处在第一状态时用于输出第一检验方式设定信号(TE)，该信号被置成激励电平以设置多位检验；当所说状态检测信号表示：第一输入信号处在与所说第一状态不同的第二状态时用于输出第二检验方式设定信号(TEST1-TEST7)，该信号响应于至少一位的第二输入信号(/RA2-/RA6)被置成激励电平；并且当所说状态测信号表示：第一输入信号处在所说第二状态并且第二输入信号处在第三状态时，用于把所说第一检验方式设定信号和所说第二检验方式设定信号都置成激励电平。