一种用于测量高反射率的装置

摘要

一种用于测量高反射率的装置，其中：光电探测器将光信号转换后的电信号由数据采集卡记录并输给计算机处理及存储，计算机同时控制数据采集卡的采集参数；其特征在于：入射腔镜和出射腔镜与平面高反镜共同构成稳定的初始衰荡腔，入射腔镜和平面高反镜构成初始衰荡腔的入射臂，出射腔镜和平面高反镜构成初始衰荡腔的出射臂；测试时，光源发出的光束经匹配透镜进入衰荡腔，会聚透镜和光电探测器置于平面高反镜后探测光腔输出信号，由光腔衰荡技术测得初始腔衰荡时间τ₁，在出射臂插入待测平面镜，调节出射腔镜，形成稳定的测试腔，同理可测得测试腔衰荡时间τ₂；计算可得待测平面镜反射率；本发明所改进的装置稳定性好、测量精度高、容易调节，适合开发高反射率测量仪器。

主权项

1、一种用于测量高反射率的装置，其中：光电探测器(7)将光信号转换成的电信号，由数据采集卡(8)记录并输入计算机(9)处理及存储，计算机(9)控制数据采集卡(8)的采样率、采集数据点长度以及采集电压最大幅值；其特征在于：入射腔镜(3)和出射腔镜(5)与平面高反镜(4)共同构成稳定的光学谐振腔作为初始衰荡腔，入射腔镜(3)和平面高反镜(4)位于同一直线上，构成初始衰荡腔的入射臂，出射腔镜(5)和平面高反镜(4)位于另一条直线上，构成初始衰荡腔的出射臂，总腔长为L，入射臂和出射臂之间的夹角为θ；测试时，由光源(1)发出的光束经匹配透镜(2)进入上述衰荡光腔，会聚透镜(6)和光电探测器(7)置于平面高反镜(4)后搜集和探测出射的光束；由光腔衰荡技术探测并通过计算机(9)拟合得到初始腔衰荡时间τ1；然后在出射臂插入待测平面高反镜(14)，调节出射腔镜(5)，形成稳定的测试腔，再由光腔衰荡技术探测并通过计算机(9)拟合得到测试腔衰荡时间τ2；通过待测平面高反镜的反射率公式计算，便可得到待测平面高反镜的反射率。