| 发明名称 |
Voltage testing apparatus |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB2328287(A) |
申请公布日期 |
1999.02.17 |
| 申请号 |
GB19980013044 |
申请日期 |
1998.06.17 |
| 申请人 |
* SAMSUNG ELECTRONICS CO LIMITED |
发明人 |
JOUNG-SU * LIM |
| 分类号 |
G01R31/12;B65G47/22;G01N27/00;G01R31/01;G01R31/02;G01R31/08;G01R31/18;(IPC1-7):G01R31/01 |
主分类号 |
G01R31/12 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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