发明名称 |
抗闪烁摄录装置与摄录方法 |
摘要 |
一种抗闪烁摄录装置与摄录方法。所述方法根据一摄录装置所撷取的一感测画面,估算该感测画面各行的曝光积分,并将该感测画面各行的曝光积分与各行的曝光积分基准比较,以估算该感测画面各行的曝光积分偏移,其中,各行的上述曝光积分基准是自至少一参考画面估算而得。接着,统计至少该感测画面各行的曝光积分偏移的正负变化,根据统计结果判断是否存在光源闪烁问题,并根据判断结果设定该摄录装置的一自动曝光模块。 |
申请公布号 |
CN103108132B |
申请公布日期 |
2016.06.15 |
申请号 |
CN201110391586.5 |
申请日期 |
2011.11.15 |
申请人 |
慧荣科技股份有限公司 |
发明人 |
何文政;陈永纬 |
分类号 |
H04N5/235(2006.01)I;H04N5/243(2006.01)I |
主分类号 |
H04N5/235(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
陆勍 |
主权项 |
一种抗闪烁摄录方法,包括:根据一摄录装置所撷取的一感测画面,估算该感测画面各行的曝光积分;将该感测画面各行的曝光积分与各行的曝光积分基准比较,以估算该感测画面各行的曝光积分偏移,其中,各行的上述曝光积分基准是自至少一参考画面估算而得;以及统计至少该感测画面各行的曝光积分偏移的正负变化,根据统计结果判断是否存在光源闪烁问题,并根据判断结果设定该摄录装置的一自动曝光模块,其中上述统计与判断步骤包括:根据一周期长度,将该感测画面的所有行分类为第一象限对应行、第二象限对应行、第三象限对应行以及第四象限对应行四组;于第一、第二、第三以及第四象限平均曝光积分偏移皆为正值时,排除考虑该周期长度的光源闪烁,并更新该周期长度以重新进行所述统计与判断步骤。 |
地址 |
中国台湾新竹县竹北市台元街36号8楼之1 |