发明名称 一种基于金属/金属氧化物的QLED器件及其制备方法
摘要 本发明公开一种基于金属/金属氧化物的QLED器件及其制备方法。制备方法包括:步骤A、将金属单质沉积到衬底上;步骤B、对所述金属单质进行氧化处理,使所述金属单质上生长出金属氧化物;步骤C、对所述衬底进行退火处理,使金属单质与金属氧化物进一步融合;步骤D、在所述衬底上依次沉积空穴传输层、量子点发光层、电子传输层;步骤E、在沉积完各功能层的衬底上制作阴极,完成QLED器件的制备。通过本发明的方法,使得金属电极和金属氧化物之间没有明显的界面,进而减少了界面的缺陷态,从而增加了载流子的传输效率,提高器件的性能。这种金属/金属氧化物的结构降低了载流子传输的势垒,提高了器件的效率。
申请公布号 CN106252521A 申请公布日期 2016.12.21
申请号 CN201610743554.X 申请日期 2016.08.29
申请人 TCL集团股份有限公司 发明人 王宇;曹蔚然;杨一行;钱磊
分类号 H01L51/50(2006.01)I;H01L51/52(2006.01)I;H01L51/56(2006.01)I 主分类号 H01L51/50(2006.01)I
代理机构 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人 王永文;刘文求
主权项 一种基于金属/金属氧化物的QLED器件的制备方法,其特征在于,包括:步骤A、将金属单质沉积到衬底上;步骤B、对所述金属单质进行氧化处理,使所述金属单质上生长出金属氧化物;步骤C、对所述衬底进行退火处理,使金属单质与金属氧化物进一步融合;步骤D、在所述衬底上依次沉积空穴传输层、量子点发光层、电子传输层;步骤E、在沉积完各功能层的衬底上制作阴极,完成QLED器件的制备。
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