发明名称 |
一种基于金属/金属氧化物的QLED器件及其制备方法 |
摘要 |
本发明公开一种基于金属/金属氧化物的QLED器件及其制备方法。制备方法包括:步骤A、将金属单质沉积到衬底上;步骤B、对所述金属单质进行氧化处理,使所述金属单质上生长出金属氧化物;步骤C、对所述衬底进行退火处理,使金属单质与金属氧化物进一步融合;步骤D、在所述衬底上依次沉积空穴传输层、量子点发光层、电子传输层;步骤E、在沉积完各功能层的衬底上制作阴极,完成QLED器件的制备。通过本发明的方法,使得金属电极和金属氧化物之间没有明显的界面,进而减少了界面的缺陷态,从而增加了载流子的传输效率,提高器件的性能。这种金属/金属氧化物的结构降低了载流子传输的势垒,提高了器件的效率。 |
申请公布号 |
CN106252521A |
申请公布日期 |
2016.12.21 |
申请号 |
CN201610743554.X |
申请日期 |
2016.08.29 |
申请人 |
TCL集团股份有限公司 |
发明人 |
王宇;曹蔚然;杨一行;钱磊 |
分类号 |
H01L51/50(2006.01)I;H01L51/52(2006.01)I;H01L51/56(2006.01)I |
主分类号 |
H01L51/50(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 |
代理人 |
王永文;刘文求 |
主权项 |
一种基于金属/金属氧化物的QLED器件的制备方法,其特征在于,包括:步骤A、将金属单质沉积到衬底上;步骤B、对所述金属单质进行氧化处理,使所述金属单质上生长出金属氧化物;步骤C、对所述衬底进行退火处理,使金属单质与金属氧化物进一步融合;步骤D、在所述衬底上依次沉积空穴传输层、量子点发光层、电子传输层;步骤E、在沉积完各功能层的衬底上制作阴极,完成QLED器件的制备。 |
地址 |
516006 广东省惠州市仲恺高新技术开发区十九号小区 |