发明名称 Semiconductor device controllable by field effect with several temperature sensors
摘要 In den Halbleiterkörper (1) eines Leistungs-MOSFET oder IGBT sind mindestens zwei Temperatursensoren (4, 5) integriert, die an verschiedenen Orten innerhalb des Zellenfeldes (3) angeordnet sind. Damit wird der Temperaturgradient zwischen einem stark erhitzten, lokalen Bereich des Halbleiterkörpers und einem der Temperatursensoren verringert und die Ansprechzeit im Überlastfall verkürzt sich. <IMAGE>
申请公布号 EP0763894(A2) 申请公布日期 1997.03.19
申请号 EP19960111673 申请日期 1996.07.18
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 SANDER, RAINALD, DIPL.-PHYS.;GRAF, ALFONS, DR.-ING.
分类号 G01K7/01;H01L21/822;H01L23/34;H01L27/02;H01L27/04;H01L27/06;H01L29/78;(IPC1-7):H03K17/082 主分类号 G01K7/01
代理机构 代理人
主权项
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