Anordnung zum Test von eingebetteten Schaltungen mit Hilfe von Testinseln

摘要

Diese Erfindung betrifft eine Anordnung zum Testen einer eingebetteten Schaltung als Bestandteil einer Gesamtschaltung, die sich auf einer Halbleiterscheibe befindet. Durch die erfindungsgemäße Anordnung kann die Zeit zum Testen der eingebetteten Schaltung drastisch reduziert werden, da ein voller paralleler Zugriff ermöglicht wird.