| 发明名称 |
METHOD OF DETERMINATION OF RECOMBINATION PARAMETERS OF SEMICONDUCTOR MATERIALS |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
RU1356901(C) |
申请公布日期 |
1995.12.20 |
| 申请号 |
SU19864060392 |
申请日期 |
1986.04.24 |
| 申请人 |
AMALSKAYA R.M.;GAMARTS E.M.;GANICHEV A.P.;STAFEEV S.K. |
发明人 |
AMALSKAYA R.M.;GAMARTS E.M.;GANICHEV A.P.;STAFEEV S.K. |
| 分类号 |
H01L21/66;G01R31/26;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
H01L21/66 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
