发明名称 |
功能元件封装 |
摘要 |
本发明提供一种功能元件封装,是利用焊接对功能元件进行晶片级气密密封的封装结构,本发明中采用具有在内部表面实施金属化膜的凹部的第1Si基板,和在所述凹部相对的位置上实施金属化膜的第2Si基板,在所述第1Si基板的所述凹部的内表面实施的金属化膜,和所述第2Si基板的与所述凹部相对的位置上实施金属化膜,通过熔融焊料来进行连接,将所述功能元件气密密封在该第1Si基板和第2Si基板之间。这样,能够提高焊料对2个Si基板的润湿性,增强Si基板之间的接合性,提高封装的制造成品率。 |
申请公布号 |
CN101261964A |
申请公布日期 |
2008.09.10 |
申请号 |
CN200810008696.7 |
申请日期 |
2008.02.05 |
申请人 |
日立金属株式会社 |
发明人 |
秦昌平;松岛直树;坂本英次;冈田亮二;青野宇纪;风间敦;木田年纪 |
分类号 |
H01L23/02(2006.01);H01L23/04(2006.01);H01L23/488(2006.01);H01L21/52(2006.01);H01L21/60(2006.01);B81B7/00(2006.01);B81B7/02(2006.01);B81C1/00(2006.01);B81C3/00(2006.01) |
主分类号 |
H01L23/02(2006.01) |
代理机构 |
北京银龙知识产权代理有限公司 |
代理人 |
钟晶 |
主权项 |
1.一种功能元件封装,其特征为,具备:功能元件,形成凹部的第1Si基板,所述凹部在内部表面实施金属化膜,在与所述凹部相对的位置上实施金属化膜的第2Si基板,将所述第1Si基板上形成的所述凹部的内部表面上所实施的金属化膜,与所述凹部相对的所述第2Si基板的位置上所实施的金属化膜之间,通过熔融焊料来连接,接合所述第1Si基板和第2Si基板来气密密封所述功能元件。 |
地址 |
日本东京都 |