发明名称 探针卡之封装模组结构
摘要 本创作系提出一种探针卡之封装模组结构,其系包括一承载基板、一缓冲基板与一探针卡结构,且缓冲基板系夹设在承载基板与探针卡结构之间,并且承载基板、缓冲基板以及探针卡结构系利用金属导线或是额外的导电胶体、焊垫等结构以彼此电性连接。由于此缓冲基板系由具有弹性之材料所构成,故可用以提供缓冲空间,因此,使得整体探针卡之封装模组结构在对待测物进行测试时,可藉由缓冲基板的设置以吸收施加于探针卡结构上的压力以降低对待测物所可能造成之损害。
申请公布号 TWM327477 申请公布日期 2008.02.21
申请号 TW096210135 申请日期 2007.06.22
申请人 垂直电子股份有限公司 发明人 郑仁熹
分类号 G01R1/073(2006.01) 主分类号 G01R1/073(2006.01)
代理机构 代理人 林火泉 台北市大安区忠孝东路4段311号12楼之1
主权项 1.一种探针卡之封装模组结构,包括: 一缓冲基板,其系具有一第一表面与一第二表面; 一承载基板,其系位于该缓冲基板之该第一表面侧 ,且该缓冲基板与该承载基板之间系以电性连接; 以及 一探针卡结构,其系位于该缓冲基板之该第二表面 侧,且该探针卡结构与该缓冲基板之间系以电性连 接。 2.如申请专利范围第1项所述之探针卡之封装模组 结构,其中,该缓冲基板系为软性印刷电路板。 3.如申请专利范围第1项所述之探针卡之封装模组 结构,其中,该缓冲基板之材料系为聚亚醯胺。 4.如申请专利范围第1项所述之探针卡之封装模组 结构,其中,该缓冲基板系利用复数第二导线以与 外界电性连接。 5.如申请专利范围第4项所述之探针卡之封装模组 结构,其中,该些第二导线系位于该缓冲基板上。 6.如申请专利范围第4项所述之探针卡之封装模组 结构,其中,该些第二导线系贯穿该缓冲基板。 7.如申请专利范围第1项所述之探针卡之封装模组 结构,其中,该承载基板系为印刷电路板。 8.如申请专利范围第1项所述之探针卡之封装模组 结构,其中,该承载基板系利用复数第一导线以与 外界电性连接。 9.如申请专利范围第8项所述之探针卡之封装模组 结构,其中,该些第一导线系位于该承载基板上。 10.如申请专利范围第8项所述之探针卡之封装模组 结构,其中,该些第一导线系贯穿该承载基板。 11.如申请专利范围第1项所述之探针卡之封装模组 结构,其中,该探针卡结构之型态系选自于垂直式 探针或水平式探针。 12.如申请专利范围第1项所述之探针卡之封装模组 结构,其中,该探针卡结构系包括: 一探针基板;以及 至少一探针,其系设置于该探针基板上。 13.如申请专利范围第12项所述之探针卡之封装模 组结构,其中,该探针基板系为印刷电路板。 14.如申请专利范围第12项所述之探针卡之封装模 组结构,其中,该探针基板系为矽基板。 15.如申请专利范围第12项所述之探针卡之封装模 组结构,其中,该探针之材料系为导电材料。 16.如申请专利范围第12项所述之探针卡之封装模 组结构,其中,该探针系藉由微机电制程以形成者 。 17.如申请专利范围第12项所述之探针卡之封装模 组结构,其中,该探针系藉由复数第三导线以与外 界电性连接。 18.如申请专利范围第17项所述之探针卡之封装模 组结构,其中,该些第三导线系位于该探针基板上 。 19.如申请专利范围第17项所述之探针卡之封装模 组结构,其中,该些第三导线系贯穿该探针基板。 图式简单说明: 第1图为美国专利US5565788中所揭露的探针卡封装结 构的结构示意图。 第2图为美国专利US6229327中所揭露的探针卡封装结 构的结构示意图。 第3图为美国专利US2002/0011855中所揭露的探针卡封 装结构的结构示意图。 第4图为中国台湾专利第0594020号中所揭露的探针卡封 装结构的结构示意图。 第5图为本创作之探针卡之封装模组结构的第一实 施态样。 第6图为本创作之探针卡之封装模组结构的第二实 施态样。
地址 新竹县竹北市中正东路111号3楼