首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 CONTACT PROBE FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT
摘要
申请公布号 JPH02141680(A) 申请公布日期 1990.05.31
申请号 JP19880296712 申请日期 1988.11.22
申请人 NEC YAMAGATA LTD 发明人 SAITO MINORU
分类号 G01R1/073;G01R31/28;H01L21/66;H05K9/00 主分类号 G01R1/073
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com