RASTERELEKTRONENMIKROSKOP IN KONTROLLIERTER ATMOSPHÄRE,申请号AT19940922723T-传众专利搜索

发明名称	RASTERELEKTRONENMIKROSKOP IN KONTROLLIERTER ATMOSPHÄRE
摘要
申请公布号	AT189558(T)	申请公布日期	2000.02.15
申请号	AT19940922723T	申请日期	1994.07.25
申请人	PHILIPS ELECTRONICS NORTH AMERICA CORPORATION	发明人	KNOWLES, W., RALPH;SCHULTZ, WILLIAM, G.;ARMSTRONG, ALLEN, E.
分类号	H01J37/18;H01J37/22;H01J37/244;H01J37/256;H01J37/28;(IPC1-7):H01J37/256	主分类号	H01J37/18
代理机构		代理人
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